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  • QZP型黑白格遮盖力QZP型黑白格遮盖力

    QEY漆膜粉化率测定仪,漆膜粉化率测定仪,粉化率测定仪用途:测定漆膜受紫外线、水汽、氧等作用引起粉化地程度。 试验技术特征:漆膜与相纸光面结合,经施加规定的均匀负荷后,取出相纸,观察相纸印痕并与标准粉化率等级样板比较,评定漆膜粉化率地等级。

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